No laboratório de raios-X utiliza-se diversas técnicas de difração e espalhamento de raios-X para a caracterização estrutural de materiais, principalmente filmes finos. Estão disponíveis as técnicas de difração coplanar e in-plane, difração com incidência rasante, difração de alta resolução, mapas do espaço recíproco, reflectometria e espalhamento a baixo ângulo.